電子設備在投入使用前，需要經過多項測試，電磁兼容(EMC)測試是其中重要一環(huán)。EMC包括EMI(干擾)和 EMS(敏感度，抗干擾)兩大項，在進行EMI一致性測試時，羅德與施瓦茨公司的 EMI 預一致性測試設備根據不同行業(yè)的測試標準提供快速、可靠的測試程序，可以有效降低在認證測試中才檢測到不合格問題的可能性。羅德與施瓦茨的預兼容測試設備基于市場領先的完整EMI一致性解決方案和羅德與施瓦茨的所有EMI專業(yè)測試知識，能夠盡量保證產品首次即可通過完整的一致性測試。

由于電磁環(huán)境包含輻射和傳導能量，EMC也包含輻射和敏感度兩方面。基于此兩方面，EMC問題常見發(fā)生于電磁輻射發(fā)射、ESD靜電放電問題產生的失效現象。為避免產品認證期間太晚檢測到EMC問題，在EMC測試進程中，將EMC程序納入早期設計審查，在EMI調試過程中積極查找印刷電路板或組件上產生干擾的輻射問題，并對已裝配的產品執(zhí)行預一致性測試是可行方法。測試裝置和測試程序提供精簡版的完整一致性測試，非常適用于獲得與認證測試實驗室的測量相關聯(lián)的有效、可靠的測試結果。

在EMC測試中，預一致性測試沒有規(guī)定測試裝置，而是模擬一致性認證測試環(huán)境。預一致性測試不局限于任何規(guī)則，能夠輕松滿足各種要求，實現快速、經濟高效的測量。部分測試要求保證測試速度，其他情況則需要一流的測試精度和可靠性。測試環(huán)境也存在顯著差異，具體視測量類型(傳導干擾或輻射干擾)而定。

傳導干擾測量較為簡單，只需要使用合適的人工網絡或者電流或電壓探頭。輻射干擾測量相較于傳導干擾測量更為復雜，在測試中天線和被測設備 (DUT) 最少需相隔數米，而且外部干擾會影響測量結果。如果沒有合適的屏蔽室或半電波暗室可用(這種情況很常見)，也可以在建筑物內無電磁干擾的場所進行測量，幾乎無障礙物反射輻射的戶外場所則更佳。使用頻譜分析儀測量周圍環(huán)境中的頻譜，以盡量降低環(huán)境噪聲對測試結果的影響。

另一種方法是使用吉赫茲橫電磁波室 (GTEM)，這種設備可以隔離被測設備和外部輻射并削弱反射，與電波暗室相比成本更低、占用空間更小。

測量裝置可以添加電源線濾波器、隔離變壓器、屏蔽元件或吸收器部件等其他組件，以根據各種用途而進行調整和改進。

電磁敏感度 (EMS) 測試環(huán)境在很大程度上相當于完整的一致性測試環(huán)境。由于強電磁場的產生受到限制，因此必須在屏蔽環(huán)境中進行測試。所以，預一致性檢查難以執(zhí)行這些測試。

由此可見，在正式進行EMC測試前進行預一致性測試是必需步驟，此舉可有效降低出現EMC問題的風險，保證電子設備后續(xù)安全使用。

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